книги Наука, техника, медицина Техника Легкая промышленность

Characterization of Femtosecond Laser Ablation and Deposition. Characterization of Femtosecond Laser Ablation and Deposition by Use of Spectral Interferometry

Код 1229979

Нет в продаже

Аннотация к книге "Characterization of Femtosecond Laser Ablation and Deposition. Characterization of Femtosecond Laser Ablation and Deposition by Use of Spectral Interferometry"

A novel femtosecond micromachining workstation that permits real-time measurement of ablation depth and transient reflectivity is demonstrated. This instrumentation is used to characterize two processes: micromachining of thin metal films, and laser induced forward transfer (LIFT). Spectral interferometry was incorporated in a femtosecond micromachining system to enable real-time visualization of micromachined features as they are written into thin metal films-low energy(pJ) femtosecond...

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Книга по требованию
Дата выхода: июль 2011
ISBN: 978-3-8383-6376-9
Объём: 148 страниц
Масса: 246 г
Размеры(высота, ширина, толщина), см: 23 x 16 x 1

Книга находится в категориях

Химическая промышленность

Вместе с этой книгой покупают

Просмотренные товары

Просмотренные категории

Художественная литература