Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов
В монографии систематизированы и обобщены результаты разработок методов прогнозирования надежности полупроводниковых лавинных диодов и исследований механизмов их деградации. Авторы существенно опираются на собственные исследования и разработки в этой области. Проанализированы различные механизмы деградации полупроводниковых лавинных диодов с р — п-переходом, гетеропереходом, барьером Шотткн....
