Applications of SR-TXRF Analysis in XAS. Applications of Synchrotron Radiation induced Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis in Absorption Spectroscopy
Код 898746
- ISBN: 978-3-8381-0792-9
- 176 страниц
- июль 2011
- Книга по требованию
- 288 г
Код 898746
Оставить комментарий