книги Наука, техника, медицина Естественные науки Точные науки Физика

Atomic force microscopy

Код 1464060

Нет в продаже

Аннотация к книге "Atomic force microscopy"

Please note that the content of this book primarily consists of articles available from Wikipedia or other free sources online. Atomic force microscopy (AFM) or scanning force microscopy (SFM) is a very high-resolution type of scanning probe microscopy, with demonstrated resolution on the order of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction limit. The precursor to the AFM, the scanning tunneling microscope, was developed by Gerd Binnig and Heinrich Rohrer...

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Книга по требованию
Дата выхода: июль 2011
ISBN: 978-6-1327-2215-7
Объём: 72 страниц
Масса: 129 г
Размеры(высота, ширина, толщина), см: 23 x 16 x 1

Вместе с этой книгой покупают

Просмотренные товары