книги Наука, техника, медицина Техника Транспорт Воздушный транспорт

Exploration of the Potential Defects in GaN HEMTs. with Hyperspectrum Image Techniques

Код 908292

Нет в продаже

Аннотация к книге "Exploration of the Potential Defects in GaN HEMTs. with Hyperspectrum Image Techniques"

What happens inside a GaN HEMT during device operations? Usually,destructive measurements are required to analyze the defect and the carrier trapping - which are the two biggest reliabilty issues in GaN electronics.The novel noninvasive optical characterization techniques provided by this book can visualize the potential defect and the trapping region inside an operating GaN HEMT. The techniques show promise for screening the device failure.

Данное издание не является оригинальным. Книга печатается по технологии принт-он-деманд после получения заказа.

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Книга по требованию
Дата выхода: июль 2011
ISBN: 978-3-6391-1415-7
Объём: 148 страниц
Масса: 246 г
Размеры(высота, ширина, толщина), см: 23 x 16 x 1

Вместе с этой книгой покупают

Просмотренные товары