книги Наука, техника, медицина Техника Транспорт Воздушный транспорт

Focused ion beam

Код 933408

Нет в продаже

Аннотация к книге "Focused ion beam"

High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Focused ion beam, also known as FIB, is a technique used particularly in the semiconductor and materials science fields for site-specific analysis, deposition, and ablation of materials. An FIB setup is a scientific instrument that resembles a scanning electron microscope (SEM). However, while the SEM uses a focused beam of electrons to image the sample in the chamber, an FIB setup instead uses a focused beam of ions. FIB can also be incorporated in a...

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Книга по требованию
Дата выхода: июль 2011
ISBN: 978-6-1316-0292-4
Объём: 68 страниц
Масса: 123 г
Размеры(высота, ширина, толщина), см: 23 x 16 x 1

Вместе с этой книгой покупают