High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope. Design Methodology, Control Strategy, and Performance Evaluation for the Tip-scanning Atomic Force Microscope for the Industrial Large Samples
Код 901788
- ISBN: 978-3-6390-0270-6
- 132 страницы
- июль 2011
- Книга по требованию
- 221 г
Оставить комментарий