книги Наука, техника, медицина Техника Радиоэлектроника

Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов

Код 3576360

  • ISBN: 978-5-458-39360-7

Нет в продаже

Аннотация к книге "Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов"

В монографии систематизированы и обобщены результаты разработок методов прогнозирования надежности полупроводниковых лавинных диодов и исследований механизмов их деградации. Авторы существенно опираются на собственные исследования и разработки в этой области. Проанализированы различные механизмы деградации полупроводниковых лавинных диодов с р — п-переходом, гетеропереходом, барьером Шотткн. Рассмотрены пути повышения их надежности. Для облегчения понимания процессов деградации лавинных диодов...

Оставить комментарий

Оцените книгу:

ISBN: 978-5-458-39360-7

Книга находится в категориях

Справочники Словари-справочники

Вместе с этой книгой покупают