везде Расширенный поиск
книги Наука, техника, медицина Техника Легкая промышленность

Michele Ghidotti

Reliability Issues in Ultra-Scaled Flash Memories

Код 924008

Бумажная книга

Нет в продаже

Сообщить о появлении

Аннотация к книге "Reliability Issues in Ultra-Scaled Flash Memories"

The constant improvements in the silicon technology have resulted in a continuous reduction of the electron devices feature size. These technological developments strongly impact in device performance. One of the most important reliability issues in the last technological nodes is the Random Telegraph Noise (RTN). This is phenomenon affects the threshold voltage (VT) of the memory cell. A physics-based statistical model is presented and validated. Beyond the 60nm technology node, the...

Оставить замечание о найденной опечатке Версия для печати

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Книга по требованию
Дата выхода: июль 2011
ISBN: 978-3-6392-9361-6
Объём: 180 страниц
Масса: 295 г
Размеры(высота, ширина, толщина), см: 23 x 16 x 1

Книга находится в категориях

Химическая промышленность

Вместе с этой книгой покупают

Новая кофейная книга face.2
Новая кофейная книга face.2 бумажная книга
Макс Фрай
Нет в продаже
Сепсис в акушерстве и гинекологии
Сепсис в акушерстве и гинекологии бумажная книга
Андрей Александрович...
2.26 USD
В корзину
Цена вопроса. Том 1
Цена вопроса. Том 1 аудиокнига
Александра Маринина
Нет в продаже
-20%
Обреченные победители: шестидесятники
Обреченные победители: шестидесятники бумажная книга
Дмитрий Быков
6.69 USD 5.35 USD
На складе
В корзину
Военный перевод. Английский язык. Учебное пособие в двух частях. Часть первая
Военный перевод. Английский язык. Учебное... бумажная книга
Иван Ильич Марущак
12.4 USD
В корзину
Серебряный оракул Ленорман
Серебряный оракул Ленорман бумажная книга
Елена Бондаренко
9.61 USD
В корзину