книги Наука, техника, медицина Техника Транспорт Воздушный транспорт

Scan Chain

Код 1226491

Нет в продаже

Аннотация к книге "Scan Chain"

High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Scan chain is a technique used in Design For Test. The objective is to make testing easier by providing a simple way to set and observe every flip-flop in an IC. A special signal called scan enable is added to a design. When this signal is asserted, every flip-flop in the design is connected into a long shift register, one input pin provides the data to this chain, and one output pin is connected to the output of the chain. Then using the chip's clock...

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Книга по требованию
Дата выхода: июль 2011
ISBN: 978-6-1330-5513-1
Объём: 96 страниц
Масса: 166 г
Размеры(высота, ширина, толщина), см: 23 x 16 x 1

Вместе с этой книгой покупают