везде Расширенный поиск
книги Наука, техника, медицина Гуманитарные науки Философия Общая философия Основы философии

Jesse Russell Ronald Cohn

Secondary ion mass spectrometry

Код 3312018

  • ISBN: 978-5-5147-5090-0
Бумажная книга

Нет в продаже

Сообщить о появлении

Аннотация к книге "Secondary ion mass spectrometry"

High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a technique used in materials science and surface science to analyze the composition of solid surfaces and thin films by sputtering the surface of the specimen with a focused primary ion beam and collecting and analyzing ejected secondary ions. The mass/charge ratios of these secondary ions are measured with a mass spectrometer to determine the elemental, isotopic, or molecular composition of the surface to a...

Оставить замечание о найденной опечатке Версия для печати

Оставить комментарий

Оцените книгу:

ISBN: 978-5-5147-5090-0

Книга находится в категориях

Математика Домашние животные Техника Путешествия, туризм, природа

Вместе с этой книгой покупают

-4%
Профессиональное программирование на ассемблере x64 с расширениями AVX, AVX2 и AVX-512
Профессиональное программирование на ассемблере... бумажная книга
Даниэль Куссвюрм
36.69 USD 35.22 USD
В корзину
Путеводитель по телу. Практическое руководство по пальпации тела
Путеводитель по телу. Практическое руководство... бумажная книга
Эндрю Бил
89.2 USD
В корзину
Питер Пэн должен умереть
Питер Пэн должен умереть бумажная книга
Джон Вердон
Нет в продаже
Сулажин
Сулажин бумажная книга
Борис Акунин
1
Нет в продаже
Одна привычка в неделю. Измени себя за год
Одна привычка в неделю. Измени себя за год бумажная книга
Бретт Блюменталь
Нет в продаже
-20%
Фейсбук русской революции
Фейсбук русской революции бумажная книга
Михаил Зыгарь
12.24 USD 9.79 USD
1 На складе
В корзину

Просмотренные товары