Фундаментальные основы анализа нанопленок
Альфорд Терри Л., Фельдман Леонард К., Майер Джжеймс В.
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры...
ISBN: 978-5-91522-225-9
Издательство:
Научный мир
Дата выхода: декабрь 2012
Найденных опечаток пока нет
Добавить запись